Difractómetro de rayos X y el
detector de fallas de rayos X
Rayos X
ADX-2500 Difracción Instrumento
Introducción
ADX-2500-ray X instrumento de difracción está diseñado para su aplicación en la medición de la microestructura, las pruebas y en profundidad investigaciones investigación. Con diferentes accesorios y el control correspondiente y software de cálculo, ADX-2500 es un sistema de difracción de acuerdo a las exigencias de la práctica en muchos campos.
Rayos X ADX-2500 instrumento de difracción proporciona el análisis de la estructura de cristal único, policristalino y amorfo sample.ADX-2500 es capaz de lo siguiente: fase de análisis cualitativo y el análisis cuantitativo (RIR, la calibración interna estándar, estándar de calibración externa, Aditivo criterio) , patrón de indexación, la determinación celda unidad y el refinamiento, tamaño de los cristalitos y la determinación cepa, el perfil de ajuste y refinamiento de la estructura, la determinación de la tensión residual, análisis de la textura (ODF expresa figura polar tridimensional), la estimación de áreas de los picos de cristalinidad, análisis de película delgada y otros.
ADX-2500-ray X instrumento de difracción está diseñado para su aplicación en la medición de la microestructura, las pruebas y en profundidad investigaciones investigación. Con diferentes accesorios y el control correspondiente y software de cálculo, ADX-2500 es un sistema de difracción de acuerdo a las exigencias de la práctica en muchos campos.
Rayos X ADX-2500 instrumento de difracción proporciona el análisis de la estructura de cristal único, policristalino y amorfo sample.ADX-2500 es capaz de lo siguiente: fase de análisis cualitativo y el análisis cuantitativo (RIR, la calibración interna estándar, estándar de calibración externa, Aditivo criterio) , patrón de indexación, la determinación celda unidad y el refinamiento, tamaño de los cristalitos y la determinación cepa, el perfil de ajuste y refinamiento de la estructura, la determinación de la tensión residual, análisis de la textura (ODF expresa figura polar tridimensional), la estimación de áreas de los picos de cristalinidad, análisis de película delgada y otros.
Características
Incorporación
perfecta de hardware y software, permite ADX2500 para realizar diferentes tipos
de análisis para los investigadores de diversos campos;
De alta precisión
de la medición del ángulo de difracción permite ADX2500 para obtener los datos
más exactos;
Superior
estabilidad del sistema de control del generador Rayos X proporciona una
excelente precisión de la medición;
Diseño simple y
eficaz hace ADX-2500 conveniente para la operación y fácil de usar.
Programas
Difracción general el procesamiento de datos: búsqueda automática de pico, máximo búsqueda manual, la intensidad integral, la separación de Kα1, α2, quitan el fondo, patrón de alisado y de aumento, múltiples parcela, gráfico tridimensional y simulación del patrón de difracción de rayos X.
Perfil peeks montaje y superpuestas separación
Con la ayuda de Pseudo-Voigt o función Pearson-VII, los picos solapados podían ser separados para determinar los parámetros de los picos y calcular la cristalinidad, tamaño de los cristalitos y la tensión.
Difracción general el procesamiento de datos: búsqueda automática de pico, máximo búsqueda manual, la intensidad integral, la separación de Kα1, α2, quitan el fondo, patrón de alisado y de aumento, múltiples parcela, gráfico tridimensional y simulación del patrón de difracción de rayos X.
Perfil peeks montaje y superpuestas separación
Con la ayuda de Pseudo-Voigt o función Pearson-VII, los picos solapados podían ser separados para determinar los parámetros de los picos y calcular la cristalinidad, tamaño de los cristalitos y la tensión.
Análisis Cualitativo
El programa de procesamiento de datos tiene la función de búsqueda y el partido en la base del perfil de conjunto y ángulo de difracción. El procedimiento de perfil coincidente emplea el modo diseñado para hacer el análisis cualitativo mediante la reducción del rango de búsqueda de mayor, menor, a micro fase sin indicar el ángulo de difracción. El procedimiento de búsqueda de ángulo de difracción se basa en la posición y la intensidad picos y normalmente utilizado para el análisis cualitativo de los datos con error de ángulo grande.
Análisis Cuantitativo
Después de la composición de la fase se determina, el contenido de cada fase puede ser calculado con la ayuda de RIR o / y el refinamiento de Rietveld (Análisis cuantitativo y sin criterio).
Terreno y Exportación
El software de procesamiento de datos se hace funcionar con la interfaz de Windows. El patrón exportado preparación podría ser etiquetado, zoom, zoom y también copiar y pegar.
